آموزش آنالیز و مشخصه‌یابی با پرتو الکترون و یون - آخرین آپدیت

معرفی دوره Course Introduction

• مقدمه‌ای بر این دوره Introduction to This Course

هفته 4.1: میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) Week 4.1: Scanning Electron Microscopy

• 4.1.1: مبانی SEM 4.1.1: SEM Fundamentals

• 4.1.2: تصویربرداری SEM 4.1.2: SEM Imaging

هفته 4.2: طیف‌سنجی الکترون اوژه (AES) Week 4.2: Auger Electron Spectroscopy

• 4.2.1: گسیل الکترون اوژه 4.2.1: Auger Electron Emission

• 4.2.2: سیستم‌های الکترون اوژه 4.2.2: Auger Electron Systems

• 4.2.3: کاربردهای AES 4.2.3: AES Applications

هفته 4.3: طیف‌سنجی جرمی یون‌های ثانویه (SIMS) Week 4.3: Secondary Ion Mass Spectroscopy

• 4.3.1: تجهیزات SIMS 4.3.1: SIMS Instrumentation

• 4.3.2: طیف‌های SIMS 4.3.2: SIMS Spectra

هفته 4.4: جمع‌بندی دوره و پروژه Week 4.4: Course Wrap-up and Project

• حل مطالعه موردی: تحلیل زبری سلول خورشیدی Case Study Solution: Solar Cell Roughness Analysis