نکته:
ممکن هست محتوای این صفحه بروز نباشد ولی دانلود دوره آخرین آپدیت می باشد.
نمونه ویدیوها:
توضیحات دوره:
از میکروسکوپی تا طیفسنجی: یک رویکرد جامع، میکروسکوپی الکترونی، تجزیه و تحلیل حرارتی و پراش پرتو ایکس
دانشجویان اصول بنیادی various تکنیکهای پیشرفته شناسایی مواد را فرا گرفته و کاربردهای آنها را در تحلیل مواد شرح خواهند داد.
توسعه توانایی درک و تفسیر نتایج بهدست آمده از تکنیکهای پیشرفته شناسایی مواد.
دانشجویان قادر خواهند بود بر اساس نقاط قوت و محدودیتها، تکنیکهای شناسایی مناسب را برای انواع مختلف مواد بهصورت انتقادی ارزیابی و انتخاب کنند.
دانشجویان از تکنیکهای شناسایی پیشرفته برای حل چالشهای واقعی مواد استفاده کرده و مهارتهای تفکر انتقادی و حل مسئله خود را به نمایش میگذارند.
پیش نیازها: بدون پیشنیاز خاص. داشتن دانش عمومی در زمینه علوم پایه کافی است.
این دوره یک کاوش عمیق در تکنیکهای پیشرفتهای است که برای شناسایی مواد در مقیاس میکرو و نانو استفاده میشوند. این دوره که برای دانشجویان تحصیلات تکمیلی و متخصصان علوم مواد، مهندسی و رشتههای مرتبط طراحی شده است، طیفی از روشهای پیشرفته شناسایی را پوشش میدهد، از جمله:
میکروسکوپی الکترونی: تکنیکهایی مانند میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)، و میکروسکوپ الکترونی Auger برای تصویربرداری و تحلیل با رزولوشن بالا.
پراش پرتو ایکس (XRD)
روشهای طیفسنجی: درک عمیق تکنیکهای طیفسنجی مانند طیفسنجی رامان، طیفسنجی پراش انرژی پرتو ایکس و طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکس.
تجزیه و تحلیل حرارتی: بررسی کالریسنجی روبشی تفاضلی (DSC)، تجزیه و تحلیل حرارتی تفاضلی (DTA) و تجزیه و تحلیل وزنسنجی حرارتی (TGA) برای مطالعه خواص حرارتی.
میکروسکوپی نیروی اتمی: میکروسکوپی در سطح اتمی از طریق میکروسکوپی نیروی اتمی که معمولاً با نام AFM شناخته میشود، مورد مطالعه قرار خواهد گرفت.
از طریق مجموعهای از سخنرانیها و مطالعات موردی، دانشجویان تجربه عملی در انتخاب و بهکارگیری تکنیکهای شناسایی مناسب برای مواد مختلف کسب میکنند. این دوره همچنین بر اهمیت تفسیر دادهها و نقش شناسایی پیشرفته در توسعه و نوآوری مواد تأکید خواهد کرد.
در پایان دوره، شرکتکنندگان به مهارتها و دانش لازم برای انجام شناسایی جامع مواد مجهز میشوند و آنها را قادر میسازد تا در پیشرفتهای طراحی و کاربرد مواد در صنایع مختلف مشارکت کنند. تمرکز این دوره بر اصول، مفاهیم ابزار دقیق و تفسیر است، نه کار عملی یا آموزش آزمایشگاهی روی دستگاهها.
سرفصل ها و درس ها
مقدمه
Introduction
مقدمه
Introduction
میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)
Scanning Electron Microscopy (SEM) and Transmission Electron Microscopy (TEM)
مقدمه و توسعه میکروسکوپی الکترونی
Introduction and Development of Electron Microscopy
فرمول کانایا اوکایاما و برهمکنشهای الکترون و ماده
Kanaya Okayama Formula and Electron Matter interactions
ابزار دقیق SEM و اصول عملکرد
SEM Instrumentation and Working Principle
تجهیزات SEM
SEM Instrumentation
ابزار دقیق میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و اصول عملکرد
Transmission Electron Microscopy (TEM) Instrumentation and Working Principle
مقایسه SEM و TEM
Comparison of SEM and TEM
میکروسکوپی نیروی اتمی (AFM)
Atomic Force Microscopy (AFM)
میکروسکوپی نیروی اتمی (AFM) و نیروهای اتمی
Atomic force microscopy (AFM)-Atomic Forces
اصول AFM
Principle of AFM
نحوه عملکرد AFM
working of AFM
مودهای AFM و مقایسه با سایر میکروسکوپها
Modes of AFM and comparison with other microscopies
محدودیتها و کاربردهای AFM
Limitations and Applications of AFM
طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) و طیفسنجی الکترونی اوژه (AES)
X-ray photoelectron spectroscoy (XPS) and Auger Electron Spectroscopy (AES)
XPS اثر فوتوالکتریک و پرتوهای ایکس
XPS- Photoelectric effect and X-rays
انرژی پیوندی، انرژی جنبشی و تابع کار
Binding energy, kinetic energy and work function
ابزار دقیق XPS
XPS-Instrumentation
پدیدههای مرتبط با XPS
Phenomenon associated with XPS
جابجاییهای شیمیایی و جفتشدگی اسپین-مدار
Chemical Shifts and Spin Orbit Coupling
اثرات نهایی Shake Up و Shake off
Final Shake Up and Shake off Effects
XPS با تفکیک زاویهای
Angle Resolved XPS
طیفسنجی رامان
Raman Spectroscopy
طیفسنجی رامان و اثرات رامان (جابجایی استوکس و آنتی-استوکس)
Raman Spectroscopy, Raman Effects (Stokes and anti-Stokes Shift)
مقایسه رامان با مادون قرمز (IR)
Comparison of Raman with IR
ابزار دقیق رامان
Raman Instrumentation
طیفسنجی تلفات انرژی الکترونی (EELS)
Electron Energy Loss Spectroscopy
طیفسنجی تلفات انرژی الکترونی (EELS)
Electron Energy Loss Spectroscopy
پلاسمونهای سطحی و ناحیه تلفات انرژی بالا
Surface Plasmons and High energy Loss region
خطوط سفید، ساختار لبه ظریف در XPS، کاربردها و مقایسه با EDX
White lines, Fine Edge Structure in XPS, Applications and Comparison with EDX
تحلیل طیفی EELS
EELS Spectral Analysis
طیفسنجی پراش انرژی پرتو ایکس (EDS یا EDX)
Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS or EDX)
EDX، مکانیسم و تولید پرتو ایکس
EDX, Mechanism and Production of X-ray
ابزار دقیق EDX
EDX Instrumentation
ابزار دقیق EDX (بخش دوم) و کاربردهای EDX
EDX Instrumentations II and Applications of EDX
نمایش نظرات