لطفا جهت اطلاع از آخرین دوره ها و اخبار سایت در
کانال تلگرام
عضو شوید.
آموزش VLSI - طراحی برای آزمایش (DFT) - JTAG، Boundary SCAN و IJTAG
VLSI - Design For Test (DFT)- JTAG, Boundary SCAN and IJTAG
نکته:
آخرین آپدیت رو دریافت میکنید حتی اگر این محتوا بروز نباشد.
نمونه ویدیوها:
توضیحات دوره:
بررسی دقیق مفاهیم شرح داده شده در IEEE 1149.1 و IEEE 1687-2014 IJTAG، JTAG و BSDL. مفاهیم DFT پیش نیازها: مدارهای الکترونیکی، طراحی سیستم دیجیتال
این دوره در مورد مفاهیم دقیق JTAG، Boundary Scan و IJTAG با چندین مثال صحبت می کند.
این دوره جزئیات عمیقی را در مورد استاندارد IEEE1149.1 و IEEE 1687-2014 آموزش می دهد.
همچنین در مورد نحوه عملکرد دستگاه JTAG TAP و نحوه استفاده از آن برای انجام تست اتصال بین تراشههای متفاوت در برد مدار چاپی (PCB) خواهید آموخت
عملیات IJTAG، مفاهیم ICL و PDL نیز در این دوره مورد بحث قرار گرفته است.
سرفصل ها و درس ها
معرفی
Introduction
مقدمه ای بر DFT
Introduction to DFT
ایرادات تولید
Manufacturing Faults
JTAG
JTAG
مقدمه ای بر JTAG
Introduction to JTAG
ثبت می کند
Registers
درگاه دسترسی آزمایشی (TAP)
Test Access Port (TAP)
امتحان در JTAG
Quiz on JTAG
اسکن مرزی
Boundary SCAN
سلول اسکن مرزی
Boundary Scan Cell
دستورالعمل اسکن مرزی
Boundary Scan Instructions
امتحان در مورد اسکن مرزی
Quiz on Boundary SCAN
IJTAG
IJTAG
معرفی
Introduction
بیت درج قطعه (SIB)
Segment Insertion Bit (SIB)
زبان اتصال ابزار (ICL)
Instrument Connectivity Language (ICL)
زبان توصیف رویه (PDL)
Procedural Description Language (PDL)
نمایش نظرات