آموزش مبانی VLSI DFT: دیدگاه صنعتی و کاربردی - آخرین آپدیت

سرفصل ها و درس ها

مقدمه Introduction

• مقدمه Introduction

هدف از تست (چرا؟) The Purpose of Testing (Why?)

• جریان طراحی تراشه از RTL تا GDSII Chip Design Flow-RTL to GDSII

• هدف از تست Purpose of Testing

• انواع تست Types of Testing

هدف تست (چه چیزی؟) The Target of Testing (What?)

• عیوب تولید Manufacturing Defects

• مدل‌سازی خطا و انواع آن Fault Modeling and Types

• مدل خطای Stuck-at Stuck-at Fault Model

• مدل خطای Transition Transition Fault Model

• مدل خطای IDDQ IDDQ Fault Model

• مدل خطای Path Delay Path Delay Fault Model

• مدل خطای Cell Aware Cell-Aware Fault Model

مبانی روش‌های تست (چگونه؟) The Basics of Testing Methods (How?)

• مقدمه‌ای بر بخش مبانی روش‌های تست Introduction to Basics of Testing Methods Section

• معرفی مبانی روش‌های تست Introduction of Basics of Testing Methods

• بلوک‌های سازنده تراشه Building Blocks of Chip

• تست داخلی حافظه (MBIST) Memory BIST (MBIST)

• عیب‌یابی Boundary Scan (BSD) Boundary Scan Diagnosis (BSD)

• تکنیک SCAN SCAN

• تست IPهای آنالوگ Analog IPs Testing

جریان‌های پایه پیاده‌سازی DFT در صنعت Basic DFT Implementation Flows used in Industry

• جریان‌های پایه پیاده‌سازی DFT در صنعت Basic DFT Implementation Flows used in Industry

• جریان درج SCAN پایه Basic SCAN Insertion Flow

• جریان درج MBIST MBIST Insertion Flow

• جریان درج BSD BSD Insertion Flow

• جریان درج حالت تست IP آنالوگ Analog IP Test Mode Insertion Flow

• استفاده از ابزارهای مختلف در DFT Different Tools Usage in DFT

نتیجه‌گیری Conclusion

• نتیجه‌گیری Conclusion

سنجش دانش Test your knowledge

• سنجش دانش مبانی DFT Test your knowledge of DFT basics