لطفا جهت اطلاع از آخرین دوره ها و اخبار سایت در
کانال تلگرام
عضو شوید.
آموزش هوش مصنوعی لبه (Edge AI) و نانوتکنولوژی: نوآوریهای نیمههادی
- آخرین آپدیت
دانلود Edge AI and Nanotechnology: Semiconductor Innovations
نکته:
ممکن هست محتوای این صفحه بروز نباشد ولی دانلود دوره آخرین آپدیت می باشد.
نمونه ویدیوها:
توضیحات دوره:
تولید نیمههادیها بهطور فزایندهای برای پیشبینی انحرافات فرآیندی، بهینهسازی بازدهی و ایجاد اعتماد به هوش مصنوعی وابسته است. این دوره شما را با مهارتهای عملی برای طراحی، ارزیابی و پیادهسازی سیستمهای هشدار زودهنگام مبتنی بر AI تجهیز میکند تا از بازدهی تولید محافظت کرده و پاسخگویی بلندمدت را تضمین نمایید. شما در محیطهای شبیهسازی شده Fab، با دادههای SPC، گزارشهای سلامت تجهیزات و چارچوبهای حاکمیتی کار خواهید کرد تا به جای تحلیلهای واکنشی، تصمیماتی آیندهنگر و کاربردی اتخاذ کنید.
در پایان این دوره، شما قادر خواهید بود یک مدل Random Forest را روی دادههای تاریخی SPC پیادهسازی کنید تا انحرافات ابعاد بحرانی (CD) را ۱۲ ساعت زودتر پیشبینی کرده و دقت (Precision) و فراخوانی (Recall) مدل را مستند کنید. همچنین، گزارشهای سلامت تجهیزات را با تلفات بازدهی در سطح ویفر در سه Fab مختلف تطبیق میدهید تا دو سنسور پیشبینیکننده کلیدی را شناسایی کنید و یک چارچوب حاکمیتی برای تعیین بازههای بازآموزی مدل، گیتهای کیفیت داده و مسیرهای ارجاع برای ارائه در جلسات ماهانه مدیریت تعریف نمایید.
داشتن تجربه در زمینه نیمههادیها، مهندسی بازدهی یا فرآیند، یا تحلیلهای تولید، به همراه آشنایی با SPC و جریانهای کاری دادههای Fab الزامی است. تمرینهای عملی، مدلسازی پیشبینیکننده، تحلیل سنسورها و شبیهسازیهای حاکمیتی به شما مهارت لازم برای پیشبینی مشکلات، تفسیر مسئولانه مجموعهدادههای پیچیده و پیادهسازی AI به عنوان یک قابلیت عملیاتی قابل اعتماد در محیطهای تولیدی را میدهد.
سرفصل ها و درس ها
پیشبینی انحرافات CD با Edge AI و دادههای SPC
Predicting CD Excursions with Edge AI and SPC Data
مقدمه و خوشآمدگویی
Introduction and Welcome
از نمودارهای SPC تا سیگنالهای پیشبینیکننده
From SPC Charts to Predictive Signals
آموزش مدل Random Forest روی دادههای SPC در Fab
Training a Random-Forest Model on Fab SPC Data
پیوند دادن سلامت تجهیزات به تلفات بازدهی در سطح ویفر
Linking Equipment Health to Wafer-Level Yield Loss
از سلامت تجهیزات تا تاثیر بر بازدهی
From Equipment Health to Yield Impact
گزارشهای تجهیزات، تلهمتری سنسورها و پایگاه دادههای بازدهی
Equipment Logs, Sensor Telemetry, and Yield Databases
رتبهبندی سنسورها بر اساس قدرت پیشبینی
Ranking Sensors by Predictive Power
حاکمیت مدلهای AI در Fabهای نیمههادی
Governing AI Models in Semiconductor Fabs
چرا حاکمیت به اندازه دقت مدل اهمیت دارد
Why Governance Is as Important as Accuracy
اجزای کلیدی حاکمیت برای AI در تولید
Key Governance Components for Manufacturing AI
از چارچوب نظری تا جلسه مدیریت
From Framework to Staff Meeting
پیشرفت از طریق یادگیری مستمر
Advancing through Continuous Learning
نمایش نظرات