VLSI Foundation

آموزش VLSI - طراحی برای آزمایش (DFT) - JTAG، Boundary SCAN و IJTAG

VLSI - Design For Test (DFT)- JTAG, Boundary SCAN and IJTAG

بررسی دقیق مفاهیم شرح داده شده در IEEE 1149.1 و IEEE 1687-2014

---