آموزش VLSI - طراحی برای آزمایش (DFT) - JTAG، Boundary SCAN و IJTAG
VLSI - Design For Test (DFT)- JTAG, Boundary SCAN and IJTAG
بررسی دقیق مفاهیم شرح داده شده در IEEE 1149.1 و IEEE 1687-2014
برای دریافت و مشاهده جزییات بیشتر این دوره کلیک کنیدبررسی دقیق مفاهیم شرح داده شده در IEEE 1149.1 و IEEE 1687-2014
برای دریافت و مشاهده جزییات بیشتر این دوره کلیک کنید